熱門搜索:掃描電鏡,電子顯微鏡,細胞成像分析
產品展示 / products 您的位置:網站首頁 > 產品展示 > 飛納電鏡 >
  • Particle Metric掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測 電子顯微鏡
    Particle Metric掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測 電子顯微鏡

    結合飛納臺式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統,以快速、簡便的方式實現顆粒的可視化分析,代表著微觀顆粒分析技術的一大進步??焖?、易用和超清晰成像質量的飛納臺式掃描電鏡,加上顆粒統計分析測量系統的顆粒圖像分析功能,為用戶檢驗、分析各種各樣的顆粒、粉末樣品創造了一個強大工具。

    更新時間:2024-01-12型號:Particle Metric瀏覽量:1495
  • Phenom Pure高性價比掃描電鏡 電子顯微鏡
    Phenom Pure高性價比掃描電鏡 電子顯微鏡

    高性價比掃描電鏡 Phenom Pure 裝配的基本組件可以滿足高分辨率成像的要求,這些基本組件不僅可以保證電鏡高質量的成像,而且能夠實現快速裝載樣品,短時間內成像。精確的自動聚焦和電子束自動對中使飛納電鏡系列成為市場上受用戶歡迎、操作簡單的智能型掃描電鏡。對于有高分辨率成像需求的用戶來說, Phenom Pure 可以提供經濟、高效的解決方案。

    更新時間:2023-07-28型號:Phenom Pure瀏覽量:2044
  • Phenom ProX飛納臺式掃描電鏡能譜一體機 電子顯微鏡
    Phenom ProX飛納臺式掃描電鏡能譜一體機 電子顯微鏡

    加快材料研究的突破性進展,您的實驗室需要一臺具備快速準確分析大量材料微觀結構的掃描電鏡。第六代 Phenom ProX 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機引入了全新一代操作系統,通過改進光路設計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進一步升級,易于操作,元素分析更快速。

    更新時間:2023-07-26型號:Phenom ProX瀏覽量:2473
  • Phenom Particle Metric顆粒測試
    Phenom Particle Metric顆粒測試

    Phenom Particle Metric顆粒測試以較快、較簡便的方式實現顆粒的可視化分析,是微觀顆粒分析技術的一大進步??焖?、易用和超清晰圖像質量的Phenom飛納掃描電鏡,加上Particle Metric顆粒系統的顆粒圖像分析功能,為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強大工具。

    更新時間:2023-09-28型號:瀏覽量:2123
  • Phenom Pharos G2飛納臺式場發射掃描電鏡 電子顯微鏡
    Phenom Pharos G2飛納臺式場發射掃描電鏡 電子顯微鏡

    荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發射電子源臺式掃描電鏡 Phenom Pharos G2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發射電子源,使用戶可以輕松獲得高分辨率圖像,且低電壓性能優異。飛納臺式場發射掃描電鏡 Phenom Pharos G2 低電壓成像優勢明顯,可減輕電子束對樣品的損傷和穿透,更好地觀測絕緣和電子束敏感的樣品,可以還原樣品真實形貌。

    更新時間:2023-12-23型號:Phenom Pharos G2瀏覽量:2082
共 20 條記錄,當前 3 / 4 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁 
  • 聯系電話電話4008578882
  • 傳真傳真
  • 郵箱郵箱cici.yang@phenom-china.com
  • 地址公司地址上海市閔行區虹橋鎮申濱路88號上海虹橋麗寶廣場T5,705室
© 2024 版權所有:復納科學儀器(上海)有限公司   備案號:滬ICP備12015467號-5   sitemap.xml   管理登陸   技術支持:制藥網       
  • 公眾號二維碼




女人18片毛片60分钟_国产A级毛片久久久久久精品_欧美阿v高清资源不卡在线播放_欧美一卡二卡≡卡四卡高清乱码